2022/07/27
半導體電子產業
半導體電子產業
邑流微測 FlowVIEW 採用先端雷射感測技術,搭配客製化多通管路,研發半導體奈米級濕製程「線上多通道粒子檢測系統」。顯影劑、混酸去光阻液、銅 / 鋁酸、DI water 檢測效果佳
製程檢驗影響了整體製程品質,絕對是提升半導體良率的重要關鍵。過去常於成品才進行品質檢驗,但此時已浪費許多原物料資源,以及過程中耗費的人力與時間成本。隨著終端客戶要求日趨嚴格,如何建置濕製程中的品質驗證,避免被客戶highlight?我們一起進來找解方!
過去粒徑分布分析受限於傳統訊號式檢測,當需要檢測濃度高的液體樣品,粒子間訊號的互相干擾導致數據結果與預期中的不同。AI影像式粒徑分布分析設備結合Sizer與Counter兩大功能,成為強而有力的問題對策工具。
隨著現今相關產品複雜度提高,面對液態材料或新興材料檢測時,傳統AOI設備早已不敷使用。那麼,液態材料怎麼測才能得到最佳的檢測結果?液態檢測設備又為什麼是比傳統AOI設備更好的解法?
耗費預算&人力成本,無法作後續歷史資料追蹤
不論哪個產業,品質絕對是業者和消費者皆很在意的環節之一。尤其是半導體以及製造業產業鏈。隨著線寬愈作愈小,半導體零件清洗製程中,去離子水的潔淨度對於良率而言至關重要。然而目前技術卻還是很難做到多點位濕製程材料的即時性微汙染監測。
若工廠端要同時進行多點量測,往往需耗費大量預算或人力成本。再者,現行相關檢測技術僅能記錄液體中是否有異物或異常等瑕疵,無法進一步協助使用者建立生產品質履歷,作後續歷史資料追蹤,更遑論比對良率與製程液體微汙染物之關聯性。
有效提升水洗製程的效率 & 良率
基於現行的檢測瓶頸,我們瞭解多點位即時監測的對於產能與良率的重要性。為滿足國內半導體封裝大廠需求,邑流微測運用最新雷射感測技術,彙整精密多通流道,以1µm的靈敏度搭配每分鐘 30ml 流速,提供 24 小時不間斷分析監測並即時回傳相關數據。
使用者可依據產線需求,直觀判讀微粒子數量的變化、有效監控水質與處理槽系統的狀態等,不僅有效提升水洗製程的效率,更有助於達到提升良率之效果,加上多點位整合系統可大幅降低設備成本,絕對是微汙染管控的最佳解決方案。
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