2023.03.28

【研討會】先端材料精準解析:全方位粒徑分析先進技術與應用

研討會

活動訊息

多數產業都有粒徑分析需求。但,這麼多技術、這麼多儀器設備,最適合你的應用情境是哪一種?本回研討會特邀日本大塚電子的日本量測技術負責人、中山大學特聘教授以及北醫副教授分享粒徑分析的最新應用&使用經驗分享。因場地限制,名額有限,熱情推薦盡速完成報名


【研討會重點】

  • 日本最新技術&日本大塚粒徑分析開發經驗分享
  • 了解先進技術如何深入應用於不同材料分析(包括界達電位、固體表面電位等)
  • 新型影像技術如何應用於液態材料分析(含氣泡、不透明物質)
  • 產業應用&學術研究現場經驗交流

 


 

講師介紹

 

主講人 演講主題 簡介

橋田紳乃介

大塚電子株式會社

開發部 應用量測技術組負責人

(中文同步口譯)

日新月異: 「界達電位粒徑的最新應用案例」 為您介紹日本最前沿的界達電位、粒徑、固體表面電位等項目應用於半導體、生物科技、材料等等領域的最新發展應用。

賴彥成

大塚科技股份有限公司

營業部 副理

積於跬步: 「光散射界達電位粒徑量測」技術介紹 說明大塚累積超過50年的光散射量測方法原理及量測方法,對應產品開發到產線品管的最佳使用情境。

劉俊仁(新竹場)

臺北醫學大學

醫學檢驗暨生物技術學系 副教授


曾韋龍(高雄場)

國立中山大學 化學系 特聘教授

Application of particle sizer in lipid-based drug development- experience sharing 粒徑分析儀在脂類藥物開發的應用-經驗分享

Zeta potential對於研究奈米材料的重要性

 

林鈺凱

邑流微測 解決方案部 研發博士

精準數據: 「AI動態影像粒子」分析攻略 詳解如何透過獨家EDOF技術大幅提升粒徑分析可靠度,解析最精準之粒子相關數據。

林惠姿

邑流微測 市場開發部 副理

關鍵突破: 「高階液態材料如何於SEM底下維持原貌」說明

突破性液態檢測解決方案Flow AOI,橫跨研發到即時監控(含in-situ液態SEM、智慧化產線多通道粒子量測、電化學...),非常適合高階材料研發、濕製程微汙染監測等應用。

 

活動流程

5/31(三)13:00-16:30 新竹場:集思竹科會議中心-愛因斯坦廳 201會議室(新竹市科學園區東二路1號)

特別邀請:

  • 臺北醫學大學 醫學檢驗暨生物技術學系副教授 劉俊仁

  • 大塚電子株式會社 開發部 應用量測技術組負責人 橋田紳乃介


時間 主題
13:00-13:15 報到
13:15-13:20 開場
13:20-14:00

橋田紳乃介 大塚電子 應用量測技術組負責人(中文同步口譯)

日新月異: 「界達電位粒徑的最新應用案例」

14:00-14:20

賴彥成  大塚科技 營業部副理

積於跬步: 「光散射界達電位粒徑量測」技術介紹

14:20-14:50

劉俊仁 臺北醫學大學 醫學檢驗暨生物技術學系 副教授

Application of particle sizer in lipid-based drug development- experience sharing 粒徑分析儀在脂類藥物開發的應用-經驗分享

14:50-15:00 Q&A
15:00-15:20 Tea Time
15:20-15:50

林鈺凱 邑流微測 解決方案部 研發博士

精準數據: 「AI動態影像粒子」分析攻略

15:50-16:20

林惠姿 邑流微測 市場開發部 副理

關鍵突破: 「高階液態材料如何於SEM底下維持原貌」說明

16:20- Q&A

 


6/1(四)08:30-12:00 高雄場:國際會議中心

特別邀請:

  • 國立中山大學 化學系特聘教授 曾韋龍 

  • 大塚電子株式會社 開發部 應用量測技術組負責人 橋田紳乃介


時間 主題
08:30-08:45 報到
08:45-08:50 開場
08:50-09:30

橋田紳乃介 大塚電子 應用量測技術組負責人(中文同步口譯)

日新月異: 「界達電位粒徑的最新應用案例」

09:30-09:50

賴彥成  大塚科技 營業部副理

積於跬步: 「光散射界達電位粒徑量測」技術介紹

09:50-10:20

曾韋龍 國立中山大學 化學系 特聘教授

Zeta potential對於研究奈米材料的重要性

10:20-10:30 Q&A
10:30-10:50 Tea Time
10:50-11:20

林鈺凱 邑流微測 解決方案部 研發博士

精準數據: 「AI動態影像粒子」分析攻略

11:20-11:50

林惠姿 邑流微測 市場開發部 副理

關鍵突破: 「高階液態材料如何於SEM底下維持原貌」說明

11:50- Q&A